BS IEC 60747-1-2006+A1-2010 半导体器件.总则

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 15:22:38  浏览:9063   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-General
【原文标准名称】:半导体器件.总则
【标准号】:BSIEC60747-1-2006+A1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-06-30
【实施或试行日期】:2006-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:色码;元部件;连接;定义;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;图形符号;操作;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;基准方法;可靠性;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;警告符号
【英文主题词】:Colourcodes;Components;Connections;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Graphicsymbols;Handling;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Referencemethods;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Signs;Specification(approval);Symbols;Testing;Warningsymbols
【摘要】:
【中国标准分类号】:L53
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:46P;A4
【正文语种】:英语