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NF C93-801-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 23:08:06  浏览:9872   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductoroptoelectronicdevicesforfibreopticsystemapplications-Part2:measuringmethods.
【原文标准名称】:光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
【标准号】:NFC93-801-2-2009
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2009-09-01
【实施或试行日期】:2009-09-26
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Definitions;Diodes;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Fibreoptics;Infraredhight-emittingdiodes;Inspection;Integratedcircuits;Laserdiodes;Lasermodules;Light-emittingdevices;Light-emittingdiodes;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Opticalwaveguides;Optoelectronicdevices;Optoelectronics;Photodiodes;Photoelectricdevices;Phototransistors;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;Semiconductors;Specification(approval)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L53;M33
【国际标准分类号】:31_260;33_180_99
【页数】:43P;A4
【正文语种】:其他


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MIL-HDBK-728/1, MILITARY HANDBOOK: NONDESTRUCTIVE TESTING (NDT) (16 DEC 1985)., Although this handbook is provided as a guide to all those employed in nondestructive testing (NDT), it will be of specific interest to administrators, designers, production engineers, quality assurance personnel, and nondestructive test engineers and technicians.
基本信息
标准名称:光学和光学仪器环境试验方法 污染
英文名称:Optics and optical instruments-Environmental test methods-Contamination
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 光学仪器综合
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量
替代情况:被GB/T 12085.12-2010代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1989-01-02
实施日期:1990-08-01
首发日期:1989-12-29
作废日期:2011-05-01
主管部门:中国机械工业联合会
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会
起草单位:上海光学仪器所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:10页
适用范围

本标准规定了污染试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质同光学仪器的接触。本标准适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本标准不适用于作为正常的生产控制。

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量

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